Live aus dem Kloster Banz: Versteckte Fehler finden und beheben
(Source: Photovoltaik, 2015-03-06)
Forscher vom ZSW konnten das PID-Problem vom Feld ins Labor holen,
um Heilungschancen für Solarparks zu untersuchen. Der
Münsteraner Solarprofessor Konrad Mertens und Matthias Diehl
aus Rüsselsheim entwickelten eine erschwingliche
Elektrolumineszenz-Kamera für mobilen Einsatz. Damit lassen
sich heikle Fehler im Modulfeld mit geringem Aufwand genau orten.
Vor versteckten Hagelschäden warnt Marc Köntges vom ISFH.
Potenzialinduzierte Degradation (PID) ist ein noch immer nicht
ganz verstandenes Problem. Moduleigenschaften,
Wechselrichterkonzept und Witterungsbedingungen führen bei
machen Photovoltaikanlagen zu erheblichem Leistungseinbruch um bis
zu 80 Prozent. Bei manchen Modulen kann durch Erdung eines Pols auf
der Gleichstromseite oder durch nächtliches Anlegen einer
Spannung der Effekt wieder rückgängig gemacht werden.
Peter Lechner vom ZSW Stuttgart hat im Feld untersucht, unter
welchen Bedingungen PID auftritt und wie es abläuft. Diese
Abläufe lassen sich jetzt im Labor nachbilden, um Module unter
wechselnden und realitätsnahen Bedingungen zu prüfen.
Dabei lässt sich unter verschiedenen herausfinden, wie stark
ein Modul betroffen ist. Untersucht wird aber auch mit welchen
Maßnahmen ein Solarpark saniert werden kann und wie gut und
bei welchen Modulen diese Maßnahmen wirken.
Gute Einblicke durch EL-Aufnahmen
Ob eine Anlage von PID betroffen ist, ließe sich gut mit
Elektrolumineszenz (EL) sichtbar machen. Bisher mussten Module
demontiert werden, um diese Methode mit sehr teuren Spezialkameras
in Labors oder Messwagen durchzuführen. Konrad Mertens von der
FH Münster zeigte die Möglichkeit, mit einer umgebauten
Spiegelreflexkamera Anlagen vor Ort zu untersuchen. „Das Bild
ist etwas unscharf, aber Fehler sind zu sehen.“
Bei den Fehlern handelt es sich beispielsweise um Risse in den
Solarzellen, die zu Leistungseinbußen führen. Defekte
Bypassdioden lassen sich sogar genau lokalisieren, genauso wie
Hotspots. „Bei einer Dachanlage konnte trotz
Ertragseinbußen keine Fehlerursache ermittelt werden. Mit
unserer EL-Kamera fanden wir fehlerhafte Zellverbinder“, so
Mertens, dessen Team sogar den Umbau handelsüblicher Kameras
zu Selbstkosten von 300 Euro anbietet. Er sieht diese Methode als
künftigen Standard für Vor-Ort-Anlagenchecks neben
Kennlinenmessung und Thermografie.
Schnelle Diagnose nach Hagelschlag
Ein konkretes Anwendungsfeld für Mertens EL-Kameras
könnte die verstärkte Untersuchung von Hagelereignissen
werden. Marc Köntges vom ISFH in Emmerthal hat mit dem
TÜV Rheinland und weiteren Partnern herausgefunden, dass
Hagelkörnern mit drei bis vier Zentimetern Durchmesser die
Glasscheibe zwar unbeschädigt lassen, in den Solarzellen aber
Risse verursachen.
Gutachter täten sich bisher schwer, diese Fehler zu finden.
Bei mehr als jedem zweiten Hagelereignis schlagen Körner
dieser Größe auf. „Der direkte Leistungsverlust
von ein bis drei Prozent lässt sich an der Anlage nicht
messen, aufgrund der Messfehler“, sagt Köntges. Auf den
Ertrag wirkt er sich dennoch aus. Labortests zeigen, dass
Doppelglasmodule mit zwei 3,2 Millimeter dicken Scheiben den besten
Schutz bieten. Bei Glas-Folie-Modulen seien
Vier-Millimeter-Gläser besser als die dünneren
3,2-Millimeter-Scheiben.
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